Advantest推出全新多功能記憶體測試系統

愛德萬測試(Advantest)發表全新記憶體測試系統T5833，新系統同時支援DRAM與NAND快閃記憶體元件的Wafer Sort及Final Test，可滿足低成本大量測試需求。

隨著行動電子產品銷售量攀升，主要搭載於智慧型手機及平板電腦的DRAM、NAND快閃記憶體與多晶片封裝記憶體 (MCP) 正快速朝向提升速度與容量發展，這個趨勢也同樣顯見於網路和雲端伺服器市場。然而，記憶體元件種類繁多，測試成本是一大負擔，因此晶片製造商亟需一套具備先進功能、高效能，並兼顧低測試成本的解決方案。

愛德萬測試全新多功能T5833記憶體測試系統，為所有記憶體元件 (從LPDDR3-DRAM、高速NAND快閃記憶體，到新一代非揮發性記憶體IC全部涵蓋) 提供Wafer Sort 與Final Test功能，可充分滿足上述需求。

T5833具備大量並行同測能力，Wafer Sort最高達2,048個元件，Final Test達512個元件，大大縮減了測試時間，明顯提升產能，因此可達到降低測試成本之效益。除了支援known good die (KGD)測試最高達2.4Gbps之外，T5833也同時藉由彈性化的test site CPU架構，以多CPU設計，使測試流程獲得最佳化控制。

T5833系統提供領先業界的高速失效位置儲存分析功能與失效分析功能 (又稱記憶體備援功能)，是晶圓測試不可或缺的測試功能，其快速的執行速度將有助加快測試、修復更多IC並提升良率。此外，這兩項功能皆可依照需求加以調整，譬如增加CPU以提高運算速度。

T5833採用愛德萬測試的AS模組化記憶體測試平台，無論客戶需要的是工程用機台或是大型量產系統，皆可將平台調整成符合需求的設定。T5833的延展性可因應未來新世代元件測試，帶動產能提升，創造更高投資價值。

轉載自DRAMEXCHANGE